| Title | Low-Energy Ion-Induced Single-Event Burnout in Gallium Oxide Schottky Diodes |
| Publication Type | Journal Article |
| Year of Publication | 2023 |
| Authors | Cadena, R. M., D. R. Ball, E. X. Zhang, S. Islam, A. Senarath, M. W. McCurdy, E. Farzana, J. S. Speck, N. Karom, A. O’Hara, B. R. Tuttle, S. T. Pantelides, A. F. Witulski, K. F. Galloway, M. L. Alles, R. A. Reed, D. M. Fleetwood, and R. D. Schrimpf |
| Journal | IEEE Transactions on Nuclear Science |
| Volume | 70 |
| Pagination | 363-369 |
| DOI | 10.1109/TNS.2023.3237979 |